● Точен елементен анализ:Инструментът осигурява прецизни и директни отчитания на елементния състав, осигурявайки надеждно измерване на свойствата на материала.
● Разнообразни приложения:Неговата функционалност се простира до различни материали, осигурявайки гъвкавост за различни изисквания за елементен анализ в различни индустрии.
● Висока чувствителност:Високата чувствителност на инструмента може да открие микроелементи и да допринесе за цялостен елементен анализ.
● Желязо (Fe) и неговите сплави (стоманена сплав, чугун, Fe-Low легирана, Fe-Cr стомана, Fe-чугун, Fe-Cr-отлята, Fe-Mn стомана, Fe-инструментална стомана и др.)
● Алуминий (Al) и неговите сплави (Al-Si сплав, Al-Zn сплав, Al-Cu сплав, Al-Mg сплав, Pure-Al сплав и др.)
● Мед (Cu) и нейните сплави (месинг, мед-никел-Zn, алуминиев бронз, калаено-оловен бронз, червена мед, Be-бронз, Si-бронз и др.)
● Никел (Ni) и неговите сплави (чист Ni, монел метал, Hadtelloy Alloy, Incoloy, Inconel, Nimonic и др.)
● Кобалт (Co) и неговите сплави (съвместна ориентация, сплав с ниско съдържание на Co, Stellite 6,25,31, Stellite 8, WI 52, Stellite 188, F)
● Магнезий (Mg) и неговите сплави (чист Mg, Mg/Al/Mn/Zn-сплави)
● Титан (Ti) и неговите сплави
● Цинк (Zn) и неговите сплави
● Олово (Pb) и неговите сплави
● Калай(Sn) и неговите сплави
● Argentum(Ag) и неговите сплави
● Малка проба, проба със специален размер и откриване на проводник
Усъвършенстваните инструменти за спектроскопия на Spark са предназначени за анализ на материали, контрол на качеството и изследователски приложения. Подходящ е за анализиране на елементния състав на метали, сплави и други материали, което го прави основен инструмент за индустрии, които изискват прецизен елементен анализ.
Накратко, усъвършенстваният искров спектрометър е незаменим инструмент за точен и надежден елементен анализ в различни индустрии. Неговата усъвършенствана технология, многостранни приложения и удобни за потребителя функции го правят жизненоважен актив за анализ на материали, контрол на качеството и изследователски приложения.
